Aumento del rischio di tossicità dermatologica di alto grado associando alla radioterapia gli inibitori EGFR
L’aggiunta di inibitori di EGFR ( recettore del fattore di crescita epidermale ) alla radioterapia ha aumentato il controllo locoregionale e ha ridotto la mortalità di diversi tumori con bassa tossicità aggiuntiva.
Benchè alcuni report abbiano suggerito un aumento delle dermatiti da radiazioni, l’effetto totale di questi regimi terapeutici sulla tossicità dermatologica rimane non ben definito.
Ricercatori della Tulane University a New Orleans negli Stati Uniti, hanno analizzato i dati sulla tossicità dermatologica raccolti dagli abstract presentati ai Congressi annuale dell’ASCO ( American Society of Clinical Oncology ), dell’American Society of Therapeutic Radiology and Oncology, e dalla letteratura.
Sono stati inclusi nell’analisi studi clinici di fase 1, 2 e 3 che riportavano dati su dermatite, rash e mucosite da radiazione.
L’incidenza di dermatiti di alto grado da radiazione tra i pazienti che sono stati sottoposti a radioterapia e a trattamento con inibitori di EGFR è stata del 31.3%; il rash si è manifestato nel 16.1% e la mucosite nel 52.7%.
Quando la combinazione tra radioterapia e inibitori EGFR è stata confrontata con la sola radiazione, il risk ratio per la dermatite è stato pari a 2.38 ( P
In conclusione, gli inibitori EGFR, combinati con radioterapia, sono risultati associati a un significativo aumento del rischio di dermatite, rash e mucosite di alto grado da radiazione.
Benchè un aumento del rash sia atteso con gli inibitori di EGFR, la dermatite e la mucosite rappresentano nuovi campanelli di allarme per la sicurezza.
Un miglioramento delle strategie di report e di gestione sono critiche per la qualità di vita e l’ottimizzazione dei protocolli di radioterapia associata agli inibitori EGFR. ( Xagena2009 )
Tejwani A et al, Cancer 2009;115:1286-1299
Dermo2009 Onco2009